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薄膜测厚仪陶瓷工作台与大理石工作台对标不上?

发布时间:2024-08-12 10:23人气:291

      最近接到一个抖音粉丝的反馈,他们新买的薄膜测厚仪大理石工作台跟原来的陶瓷工作台对标不上。客户测量的厚度范围较大,不适合使用系数补偿的方法去处理。


      经过了解,原来的薄膜测厚仪使用的是820FC陶瓷工作台,大圆弧测帽,0.25N的传感器(没有测力弹簧,测出来的值比较接近标称厚度)。

新买的大理石工作台,φ8平面测帽,0.75N的传感器,(0.5N的测力弹簧)。

      客户反应这样两台设备测出来的差异很大。所以我们建议他更换相同的测帽跟相同的测力。


      但是更换好测帽跟测力后依然存在数据偏小。因此,我们建议他检查一下2台设备的精度,通过测量标准膜片看2台设备的差异是多少?

测试发现,2台设备测标准膜片的差异是0.5μm,测相应薄膜的差异是1μm。


      然后我们让客户检查一下绝对值页面,看看零位是否差异很大。发现2台设备零位相差不大,可以忽略不计。


      通过这样的排查,我们将原因锁定在工作台面的差异上面,鉴于大理石供应商的差异,所以可能粉丝那边买到了表面不是很平的大理石。我们让客户将标准膜片分别放在大理石工作台面跟陶瓷工作台面上,置零后进行测试,将两组得出的数据对比,此时,测出来的数据差异就没有很大。

所以我们建议客户,对大理石工作台作出相应的改善调整方案,更换上下双测头的工作台方案,这样就可以排除工作台材质之间的差异,以最少成本达到最大的效果。


       2套设备对标不上的原因有很多,只能一个一个的排查,这样我们才能更好地开展我们的工作,找到造成差异的点,逐个攻破,让我们的测量更加优化,简便,减员增效,降低成本。



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