C1216M-AT薄膜测厚仪由Derpson德准自主研发生产，是德准新一代智能双模式全自动电子测厚仪，设备采用机械式面接触的测量方法，可以不受测量材料的限制，测量分辨率高达0.1微米，广泛适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、纸张、硅片等各种材料厚度的测量。仪器支持手动、自动双重测量模式，自动模式可进行进样间距、测量点数和进样速度等参数的设置，更好地满足用户的统计分析需求。专业的测试软件拥有直观的操作界面、实时数据显示及构图功能，可进行数据起伏曲线、偏差图和圆形坐标图三种模式显示，实时数据显示包括zui大值、zui小值、平均值和统计偏差，试验过程及结果一目了然。
塑料薄膜测厚仪C1216M-AT测试原理
C1216M-AT测厚仪采用机械面接触式测试原理
设备应用
基础应用 | 薄膜、薄片、隔膜 |
纸张、纸板 | |
箔片、硅片 | |
金属片 | |
纺织材料 | |
固体电绝缘体 | |
扩展应用（需特殊附件或改制） | 量程扩展至上限：-2.2~0mm，下限+2.2~4.4mm，适用于测试薄膜、片材的厚度 |
曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试 |
