最近遇到客户在测试的过程中,点检膜片后发现测试不准,然后就自己重新校准,校准后还是测不准,所以就认为仪器设备不准确。
经过详细沟通,我们发现使用者是无法理解,用经过匹配膜属性调试后的设备点检标准膜片厚度,膜片偏大的,这个问题。
回归到原点,隔膜会变形这个是众所周知的,所以我们测试的时候需要通过减少外界影响力从而减少对膜的压缩变形,最终得到最接近膜厚度的真实值。
因此我们在测试锂电隔膜的时候,所使用的设备是不能用正常测力的设备,需要匹配膜柔软特性来调试。当我们使用用匹配好的仪器去测试标准膜片的时候,我们会发现,膜片的实测值会偏大。从而认为设备仪器不准。
那我们应该怎么正确判断仪器是否测试不准?有以下方法:
更换正常的原厂标配测帽或者大圆弧测帽去点检标准膜片,更换测帽后点检,此时测出来得数据会与标准膜片一致或接近。(但是使用平面测帽不建议使用这种方法,因为手动工作台调平受限,需要专业人员试用)
先将台面清洁干净,正确置零后,用三个不同厚度的标准片进行测试,如果测试出来得结果,多出来得数值都是一样的,那么设备本身是没有问题的。不需要校准。
先将台面清洁干净,正确置零后,用标准膜片测试同一个点,几个数值在0.3μm以内,设备就是没有问题的。例如,测出来得数值是50.1μm、50.2μm、50.3μm,这样可以判断设备没有问题。如果测出来的数值50.1 μm、50.3μm 、50.5μm的话,这样数值就是有问题的。
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