在日常的薄膜厚度测试过程中，我们会经常遇到一种情况就是对标不了。比如说，与标准片对标，测量数据差异大；又比如说使用多个设备，与其他设备测量差异大；为什么会出现这种情况呢？
广州德准机电设备有限公司通过不断地研究，发现有以下因素会影响对标：
1.测帽或者大理石面粘细微异物，用酒精粘无尘布放入测头底下来回擦拭干净。
2.气压问题，压是不是0.2-0.25兆帕之间，很多时候气压过大，导致皮圈位移无法正常工作。另外一点就是没有用独立的调节阀，多台设备共用一个调节阀，所以气压偏大。
3.检查皮圈位置是否在正常位，主要通过钢圈是否刚好压住皮圈、皮圈开模线是否成一条竖直线、底部与测头是否贴合这三点排查。
4.压缩行程
5.设置比例因子。很多时候仪器设置了比例因子，因此在与标准块对标时候，需要将比例因子调回1.0.
6.用标准块校准。设备空测数据跳动大，而且多个标准块测量的值是不稳定的，比如，用多个标准块测量时候，比如500/1000/1200μm是测量的数值分别是502.5/1002.5/1202.5时候，多出的数值都是差不多多出2.5μm的时候是不需要校准，相反的，如果测出来的数据比如像502.5/1005.6/1208.7μm的这样差异大的数据时，就需要通过标准块校准。
7.如果测帽是平面测帽的话，还要考虑到测头与大理石之间的平行度。
8.如果测帽是大圆弧测帽的话，可以通过减缓测头下落的速度，改变测帽对测膜的压力变形，从而达到减少变形影响测量数据的效果。
因此对标不了，不一定是设备的本身的问题，我们需要通过对以上因素的排查，得出影响对标的最终因素，找出问题点解决问题后，我们的数据测量就是准确的。
